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NI下一代自动化测试系统构建指南
  • 点击数:796     发布时间:2008-06-20 19:32:10
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关键词:


  专为以下工程师度身定制:

  ·希望了解当前自动化测试系统所面临的挑战
  ·希望了解下一代自动化测试系统的发展趋势及其相应的解决方案
  ·希望构建的测试系统能够进一步提高系统灵活性、可扩展行,进一步提升系统的吞吐能力,进一步降低测试系统的投资
  ·希望了解模块化特性为测试系统的硬件平台以及软件架构带来的强大特性
  ·需要更进一步了解NI模块化仪器产品及应用详细内容
  ·希望了解最新的PXI Express平台架构及性能

  为了帮助您从本次研讨会中取得最大的收获,我们建议您先期参加如下NI研讨会或预先具备相应知识为宜:

  ·基于计算机技术的测量与自动化系统
  ·了解下一代自动化测试系统体系架构,特别是模块化的硬件平台与软件架构
  ·了解如何将多平台测试设备整合到单一的混合系统中
  ·了解基于PXI总线架构的优势,及其为自动化测试系统性能带来的改善

  您将通过本场研讨会

  ·了解如何应对当前自动化测试系统的四大挑战
  ·更高性能的体系结构
  ·进一步降低测试系统的投资
  ·延长测试系统的生命周期,满足未来测试需求

  涉及的产品包括:
  ·NI 模块化仪器
  ·LabVIEW、TestStand(测试管理软件)
  ·PXIe、PXI

 

 

“构建下一代自动化测试系统巡回研讨会”即将走入西安、苏州

科讯网信息中心 Carol编辑

2008年06月10日

 

 “构建下一代自动化测试系统巡回研讨会”是美国国家仪器举办的可自定义的模块化解决方案巡回研讨会,旨在了解自动化测试的最新发展趋势,解密模块化系统架构带来的巨大优势,涵盖从直流到射频的多种自动化测试案例。

  测试测量行业正逐渐朝着自动化和模块化的方向发展,作为测试工程师,是否也在寻求一套能够满足当今和未来发展需求的自动化测试系统呢。
  ·通过软件定义测量硬件的功能:保证系统的灵活性和自定义性
  ·全面基于工业标准:保证系统的可靠性和使用寿命
  ·模块化的总线架构:提升系统吞吐量和设备的互联性
  ·高性能的模块化仪器:满足从DC到6.6GHz的不同测量应用

  “构建下一代自动化测试系统巡回研讨会”的主要内容:
  ·构建下一代自动化测试系统必备技术
  ·自动化测试的发展趋势与挑战
  ·推荐的分层架构 - 以软件为核心的模块化系统架构
  ·测试测量总线的选择和集成
  ·从直流到射频的综合功能测试介绍 

  自动化测试系统涉及的产品和应用领域:
  ·声音和振动测试
  ·NI系统联盟商的解决方案
  ·数字万用表+开关的自动化测试
  ·源测量单元(SMU)
  ·高速数字信号采集和验证
  ·射频测量应用
  ·激励- 响应测试
  ·高速示波器卡
  ·音频和视频测试

  研讨会地点及时间
  ·2008年06月11日 14:00-17:00 西安凯悦(阿房宫)饭店
  ·2008年06月18日 14:00-17:00 苏州丽都大酒店

 

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