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资讯频道来源：中国仪表网
光学元件作为与光学研究息息相关的仪器仪表，影响着社会生活中的方方面面。据中科院光电技术研究所（以下简称“光电所”）消息，近日，为保障大口径反射元件的发射率的准确测量，光电所基于测试技术平台的基础，在大口径反射光学元件高反射率均匀性测试研究中取得重大突破。
由光学镀膜完成的大口径反射光学元件光谱（反射率）非均匀性作为重要的技术参数，对于其测量准确度要求极高。只有满足一定的的技术要求才能运用在系统中，以达到保障反射光学的质量，满足系统正常运行的目标。
据悉，此项测试技术由光电所薄膜光学测试研究团队提供测试技术平台，主要技术突破在于实 现了大口径反射元件反射率分布的二维高分辨成像测量。同时，也可提供反射率测量的时间指数衰减拟合曲线和镜面反射率扫描的三维测试结果。而该测试装置也为 大口径光学元件反射率评估和优化提供了重要技术支持，助力我国光学元件产业快速发展。
此研究项目得到了中科院的项目资助，研究成果发布引发了产业广泛关注。
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